Hiện tượng phồng pin trên iPhone 8 có thể là vấn đề lớn của ngành di động

Nếu bạn theo dõi thông tin về iPhone 8 gần đây, có thể bạn đã thấy tiêu thụ điện thoại mới của Apple có khởi đầu không suôn sẻ. Và sau 6 tuần ra mắt thì xuất hiện những vấn đề pin với iPhone 8 Plus và Apple đã xác nhận đang tiến hành điều tra để tìm hiểu xem đây chỉ là vấn đề cá biệt hay là triệu chứng ban đầu của vấn đề trên quy rộng hơn.

Hiện tượng pin phồng trên iPhone 8 Plus đã gợi nhớ ngay đến sự kiện đau thương của Samsung với Galaxy Note 7. Những báo cáo ban đầu cho thấy một số máy iPhone 8 Plus bị phồng pin khiến điện thoại bị bung màn hình và không hoạt động. Apple hiện tại vẫn chưa đến giai đoạn công bố thu hồi và cũng chưa có bất kỳ báo nào về hiện tượng nổ hay cháy nhưng hãng này sẽ phải tìm hiểu dây chuyền sản xuất để xem vấn đề nằm ở đâu.

Hình ảnh chiếc iPhone 8 Plus bị phồng pin, bung màn hình

Một số ý kiến cho rằng những trường hợp iPhone 8 Plus phồng pin đang ở tỷ lệ rất nhỏ khi hãng này bán được hàng triệu sản phẩm mỗi năm. Điều đó là đúng. Với tỷ lệ sai sót cực lý tưởng là 0,001 thì trong số 18 triệu chiếc iPhone 8 bán ra trong quý này vẫn sẽ có 180 sản phẩm lỗi.

Tuy nhiên, theo phân tích của trang công nghệ AndroidAuthority thì sự tương đồng giữa vấn đề pin của iPhone 8 Plus và Galaxy Note 7 có thể là triệu chứng của vấn đề rộng hơn với ngành sản xuất smartphone hiện nay.

Đua nhau nhồi nhét linh kiện cho công nghệ mới

Không gian trong smartphone bây giờ thực sự quý giá bởi có quá nhiều thành phần linh kiện cần được bố trí trong thiết kế ngày càng mỏng. Apple và nhiều hãng khác đã từng phải chấp nhận từ bỏ cổng âm thanh 3.5 mm để đảm bảo thiết kế mỏng và vấn đề này ngày càng tệ hơn khi người dùng luôn đòi hỏi có những công nghệ mới.

Những bộ vi xử lý mới gần đây bắt đầu tích hợp thêm các thành phần xử lý AI, hình ảnh và video mới khiến cho bộ phận này trở nên cồng kềnh hơn dù rằng các vi xử lý cũng cứ tiến dần đều đến quy trình sản xuất nhỏ gọn hơn. Các cụm camera kép cần tới hai cảm biến hình ảnh, các thành phần âm thanh cao cấp có kích cỡ lớn hơn so với bộ phận xử lý âm thanh tích hợp và công nghệ nhận diện khuôn mặt đòi hỏi những cảm biến mới khiến diện tích bo mạch càng trở nên chật chội. Danh sách công nghệ mới cứ tiếp diễn nhưng điểm cơ bản là những công nghệ mới đòi hỏi nhiều khoảng trống hơn bên trong smartphone khi smartphone vẫn duy trì xu hướng mỏng và gọn hơn theo thời gian.

Điều này dẫn đến hệ quả là khủng hoảng không gian trống bên trong smartphone. Vì vậy, bất kỳ sức ép đáng kể nào với pin như bị co giãn hay bị phồng lên có thể làm ảnh hưởng thiết bị và dẫn đến sự cố.

Một điểm hạn chế nữa của những công nghệ mới trên smartphone là chúng cần có khoảng thời gian đáng kể cho việc nghiên cứu áp dụng và thử nghiệm trong quá trình làm sản phẩm mới. Với chu kỳ ra mắt smartphone cao cấp hàng năm hoặc thậm chí ngắn hơn, chỉ có một khoảng thời gian rất hạn chế cho việc thiết kế và thử nghiệm việc bố trí linh kiện bên trong smartphone. Hệ quả của việc thời gian thúc ép là tỷ lệ lỗi sẽ xuất hiện nhiều hơn. Sự cố với Galaxy Note 7 là ví dụ sinh động nhất của dạng lỗi sản xuất như vậy.

Đó là còn chưa tính đến những công nghệ mới cùng màn hình sáng hơn và vi xử lý ngày càng mạnh hơn sẽ tiêu hao năng lượng nhiều hơn. Thời lượng pin đến nay vẫn là vấn đề với các nhà sản xuất smartphone. Phía người dùng luôn muốn có viên pin đủ lớn để đáp ứng nhu cầu sử dụng cho cả ngày. Pin lớn hơn và sức ép tối ưu khoảng trống để nhồi nhét được nhiều linh kiện mới trong khi thời gian thử nghiệm hạn chế là những yếu tố làm cho khả năng nảy sinh những sự cố không lường trước tăng lên.

Sức ép từ công nghệ sạc nhanh

Không chỉ sức ép vật lý về tối ưu diện tích, pin trên smartphone bây giờ còn chịu sức ép từ các công nghệ sạc nhanh. Sạc nhanh không làm giảm nhiều tuổi thọ pin nhưng nó tiềm ẩn những vấn để với pin và các nhà sản xuất điện thoại.

Pin và mạch điện được dùng cho việc sạc nhanh cần được thiết kế đặc biệt để xử lý vấn đề gia tăng nhiệt độ và dòng điện, dẫn đến tăng kích cỡ và trọng lượng của pin. Đó là vấn đề khi các nhà sản xuất cố gắng nhồi nhét viên pin lớn hơn vào trong điện thoại mỏng. Pin sạc nhanh hoạt động ổn định bây giờ là điều có thể đạt được nhưng nó đòi hỏi quy trình kiểm soát chất lượng khắt khe và bất cứ sai sót nào đều có thể khiến sản phẩm cuối cùng gặp vấn đề. Trong khi đó, quy trình kiểm soát chất lượng cũng bị giới hạn về thời gian do thúc ép của quá trình ra mắt sản phẩm mới nhanh hơn.

Vấn đề lớn nhất với sạc nhanh không phải là dòng điện gia tăng mà là năng lượng dư thừa sản sinh ra nhiệt lượng. Nhiệt độ tăng khiến pin hư hao nhanh hơn, giảm tuổi thọ pin. Nhiệt độ sạc nhanh trên 30 độ C có thể khiến pin lão hoá nhanh hơn. Đó là một trong những lý do các nhà sản xuất sử dụng sạc nhanh trên sản phẩm phải tìm cách thoát nhiệt cho pin ra bên ngoài. Công nghệ sạc nhanh Quick Charge 4+ của Qualcomm cố gắng giải quyết vấn đề này bằng cách giám sát nhiệt và điều chỉnh dòng điện để kéo dài tuổi thọ pin nhưng nói chung thì sạc nhanh vẫn nóng hơn sạc thường. Thêm nữa, mạch điện phức tạp của sạc nhanh cũng chiếm nhiều diện tích trên bo mạch hơn so với sạc thường.

Trong khi đó, người dùng ngày càng sử dụng smartphone lâu hơn, kéo dài tới vài năm mới đổi máy. Vì vậy, nếu pin smartphone không đủ tốt cho các năm sử dụng tiếp theo thì số người dùng phàn nàn về pin sẽ tăng lên.

Tổng kết

Những phân tích trên không phải để dự đoán rằng chúng ta sẽ thấy nhiều hơn những vụ việc thu hồi sản phẩm do sự cố pin. Những sự cố pin gần đây của iPhone 8 Plus có thể chỉ là sự cố không may mắn với hãng này và người dùng nhưng có thể Apple không phải là nhà sản xuất cuối cùng gặp sự cố pin. Hay nói đúng hơn là vấn đề pin sẽ xuất hiện nhiều hơn trong các sự cố về smartphone nếu các sản xuất không có những thay đổi trong việc sản xuất.

TP